A.入射到曲界面上時(shí),反射波將發(fā)生聚焦
B.反射波聚焦或發(fā)散與曲面的凸凹(從入射方向看)有關(guān)
C.凹曲面的反射波發(fā)散
D.凸曲面的反射聚焦
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A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.45o
B.60o
C.70o
D.75o
A.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于60o時(shí)縱波聲壓反射率高
B.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于45o時(shí)縱波聲壓反射率高
C.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于30o時(shí)橫波聲壓反射率高
D.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于35o時(shí)橫波聲壓反射率高
A.大于
B.小于
C.等于
D.無法確定
最新試題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。