A.高
B.低
C.不變
D.不確定
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A.較低頻率的探頭和較粘的耦合劑
B.較高頻率的探頭和較粘的耦合劑
C.較高頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
D.較低頻率的探頭和粘度較小的耦合劑
A.CSK-ⅠA試塊
B.CSK-ⅡA試塊
C.CSK-ⅢA試塊
D.CSK-ⅣA試塊
A.半年
B.一年
C.兩年
D.三年
A.頻率和波長(zhǎng)
B.厚度和傳播時(shí)間
C.彈性模量和密度
D.化學(xué)性質(zhì)與磁導(dǎo)率
A.缺陷取向
B.缺陷指示長(zhǎng)度
C.缺陷波幅和傳播時(shí)間
D.以上全部
最新試題
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是()
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn),加載到(),并保持1分鐘,無永久變形,并在達(dá)到()金具沒有破壞,則載荷試驗(yàn)通過。
以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述,正確的是()
用X射線熒光光譜儀對(duì)變電站密閉箱體和隔離開關(guān)軸銷304不銹鋼光譜分析時(shí),判斷材質(zhì)是否符合要求應(yīng)重點(diǎn)關(guān)注()元素。
各級(jí)物資(分)公司在上級(jí)物資部門的組織下,開展()階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
以下屬于螺栓型耐張線夾型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有()
DR檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)射線檢測(cè)方法相比,其具有特點(diǎn)是()
測(cè)量伸長(zhǎng)用的試樣圓柱或棱柱部分的長(zhǎng)度,包括()
輻射防護(hù)的主要手段有()
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有()