（）是影響缺陷定量的因素。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

儀器水平線性影響（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。