A.斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進(jìn)行檢測(cè)
B.直探頭從腹板外側(cè)用直射法進(jìn)行檢測(cè)
C.直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)
D.斜探頭在腹板一側(cè)用一次發(fā)射法進(jìn)行檢測(cè)
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A.適用于疏松多孔性材料
B.不適用于疏松多孔性材料
C.可以檢查閉合性的表面缺陷
D.可以檢查埋藏于表皮層以下缺陷
A.同樣產(chǎn)品可編制一個(gè)工藝卡
B.工藝卡具有可操作性
C.工藝卡一般用表、卡形式展現(xiàn)
D.覆蓋通用工藝規(guī)程內(nèi)容
A.致密類制品用常規(guī)滲透檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)
B.致密類制品用過濾性微粒滲透檢測(cè)劑進(jìn)行檢測(cè)
C.松孔類制品用常規(guī)滲透檢測(cè)進(jìn)行檢測(cè)
D.松孔類制品用過濾性微粒滲透檢測(cè)劑方法進(jìn)行檢測(cè)
A.放射性核素少
B.放射性核素多
C.易提煉
D.不易提煉
A.鐵磁質(zhì)的磁導(dǎo)率
B.相對(duì)磁導(dǎo)率
C.真空磁導(dǎo)率
D.磁化率
最新試題
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
與一次射線相比,散射線的()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說法正確的是()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí),連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在()之間為宜。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。