A.縱向裂紋
B.橫向裂紋
C.軌底縱向裂紋
D.軌腰縱向裂紋
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A.最大
B.最小
C.最遠(yuǎn)
D.最長(zhǎng)
A.接收電路
B.發(fā)射電路
C.同步電路
D.掃描電路
A.越短
B.越長(zhǎng)
C.越寬
D.越窄
A.電流
B.電壓
C.電磁
D.電場(chǎng)
A.100℃-200℃
B.200℃-300℃
C.300℃-400℃
D.400℃-700℃
最新試題
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會(huì)使定量誤差增加。