下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）

敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）

代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。

以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）

軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）

敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。

軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）