A.物體的內(nèi)能不會(huì)改變
B.物體內(nèi)能是分子動(dòng)能和勢(shì)能的總和
C.任何物體都有內(nèi)能
D.物體內(nèi)能越小，系統(tǒng)越穩(wěn)定
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A.對(duì)應(yīng)單位的檢測(cè)能力
B.對(duì)應(yīng)單位產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
C.覆蓋所有產(chǎn)品的檢測(cè)范圍
D.對(duì)應(yīng)單位檢測(cè)對(duì)象的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
A.涂層成膜慢且均勻
B.涂層成膜快且均勻
C.附著力弱
D.附著力強(qiáng)
A.熒光強(qiáng)度
B.黏度
C.著色強(qiáng)度
D.對(duì)比度
A.滲透劑污染
B.操作不當(dāng)
C.工件結(jié)構(gòu)外形
D.工件表面外觀缺陷
A.二維點(diǎn)陣式
B.逐行掃描
C.單行掃描
D.逐點(diǎn)掃描
最新試題
滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說法正確的有（）。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說法正確的有（）。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有（）。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。