一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。

探頭的分辨力（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

影響較大的散射線通常來自（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）