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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述全息干涉測(cè)量技術(shù)特點(diǎn)。
答案:
1)一般干涉測(cè)量只可用來(lái)測(cè)量形狀比較簡(jiǎn)單的高度拋光表面的工件,而全息干涉測(cè)量能夠?qū)哂腥我庑螤詈痛植诒砻娴娜S表面進(jìn)行測(cè)...
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答案:
透射光的一部分就能重新模擬出原物的散射波前,重現(xiàn)一個(gè)與原物非常逼真的三維圖像。
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全息技術(shù)兩步成像即()。
答案:
全息圖的記錄和物光波的再現(xiàn)
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