A.概要設(shè)計(jì)說(shuō)明書
B.詳細(xì)設(shè)計(jì)說(shuō)明書
C.代碼
D.需求說(shuō)明書
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.單元測(cè)試
B.系統(tǒng)測(cè)試
C.驗(yàn)證測(cè)試
D.回歸測(cè)試
A.對(duì)所有的輸入組合創(chuàng)建測(cè)試用例
B.使用最少的測(cè)試用例獲得最大的測(cè)試覆蓋率
C.不用寫測(cè)試用例
D.便于進(jìn)行兼容性測(cè)試
A.需求開發(fā)開始
B.體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)開始
C.詳細(xì)設(shè)計(jì)開始
D.編碼開始
A.選擇現(xiàn)有的客戶使用比例最高的產(chǎn)品組合作為基準(zhǔn)測(cè)試平臺(tái)
B.版本上要盡量使用穩(wěn)定的、較新的版本
C.流行程度上要使用比較普及的平臺(tái)產(chǎn)品
D.對(duì)于生產(chǎn)廠商，盡量選擇不同公司的產(chǎn)品
A.瀑布模型
B.螺旋模型
C.敏捷開發(fā)模型
D.快速原型模型
最新試題
軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）
增量模型適合適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo)，需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。