A.setUp（）
B.set（）
C.setap（）
D.setDown（）
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A.自中向下增量測(cè)試方法
B.自底向上增量測(cè)試方法
C.多次性測(cè)試
D.維護(hù)
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.private void testXXX（）
B.public void testXXX（）
C.public float testXXX（）
D.public int testXXX（）
A.白盒測(cè)試側(cè)重于程序結(jié)構(gòu)，黑盒測(cè)試側(cè)重于功能
B.白盒測(cè)試可以使用測(cè)試工具，黑盒測(cè)試不能使用工具
C.白盒測(cè)試需要程序參與，黑盒測(cè)試不需要
D.黑盒測(cè)試比白盒測(cè)試應(yīng)用更廣泛
最新試題
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo)，需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。