單項(xiàng)選擇題

利用散射波法或衍射法對(duì)缺陷測(cè)高,下列敘述正確的是:()。

A.利用缺陷回波高度確定缺陷高度。
B.利用缺陷回波時(shí)間確定缺陷高度。
C.利用缺陷端部最大回波確定缺陷高度。
D.利用缺陷端部最大回波時(shí)間確定缺陷高度。

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