A.利用缺陷回波高度確定缺陷高度。B.利用缺陷回波時(shí)間確定缺陷高度。C.利用缺陷端部最大回波確定缺陷高度。D.利用缺陷端部最大回波時(shí)間確定缺陷高度。
A.表面凹槽深度為λ/4。B.表面凹槽深度為λ/4的奇數(shù)倍。C.表面凹槽深度為λ/2。D.表面凹槽深度為λ。
A.斜探頭在筒體外壁檢測(cè),直探頭在管子外壁檢測(cè)。B.斜探頭在管子內(nèi)、外壁檢測(cè),直探頭在筒體內(nèi)壁檢測(cè)。C.斜探頭在管子內(nèi)壁檢測(cè),直探頭在筒體外壁檢測(cè)。D.斜探頭在筒體內(nèi)壁檢測(cè),直探頭在管子內(nèi)壁檢測(cè)。