A.集成測(cè)試和單元測(cè)試
B.白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試
C.商業(yè)測(cè)試工具和開源測(cè)試工具
D.白盒測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試
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A.開發(fā)質(zhì)量
B.測(cè)試效率
C.測(cè)試準(zhǔn)確度
D.文檔質(zhì)量
A.產(chǎn)品質(zhì)量
B.測(cè)試質(zhì)量
C.測(cè)試準(zhǔn)確度
D.測(cè)試效率
A.測(cè)試效率
B.設(shè)計(jì)效率
C.開發(fā)效率
D.項(xiàng)目進(jìn)度
A.軟件需求過程
B.軟件設(shè)計(jì)過程
C.軟件開發(fā)過程
D.軟件測(cè)試過程
A.資源
B.功能
C.流程
D.死鎖
最新試題
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）
軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）