A.2m
B.1.5m
C.3m
D.4m
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A.10cm
B.25cm
C.35cm
D.45cm
A.探明的
B.控制的
C.推斷的
D.預(yù)估的
A.由淺至深
B.由上到下
C.由高到低
D.由低到高
A.一
B.二
C.三
D.四
A.6倍~8倍
B.1倍~2倍
C.3倍~4倍
D.5倍~6倍
最新試題
鉆探工程終孔后,應(yīng)按要求進(jìn)行封孔,并做好封孔記錄。一般要求封孔水泥柱進(jìn)入基巖長度不應(yīng)小于5米,礦體所在部位、礦體頂板以上5米、頂板以下5米應(yīng)封孔。對封孔質(zhì)量進(jìn)行驗(yàn)證時,應(yīng)進(jìn)行透孔質(zhì)量檢查,透孔檢查率為5%~10%,若發(fā)現(xiàn)封孔質(zhì)量存在問題,應(yīng)進(jìn)行重新封孔。
槽、井、坑探取樣,一般根據(jù)礦化均勻程度多用10x5cm或10x3cm。
穿脈坑道取樣一般在同一坑壁腰線上連續(xù)采取,礦化不均勻的應(yīng)在兩壁腰線上同時采取。
坑道方向改變后,坑壁上巖礦層的傾角線、頂板上的走向線在繪圖時,方向和角度都有變化,出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù),可用()在轉(zhuǎn)向處分開。
地質(zhì)填圖中按照填圖精度要求的觀察路線距離,垂直(或大致垂直)巖層走向布置觀察路線,觀察路線要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點(diǎn)距和線距。
一般情況下,地質(zhì)界線投影時,常用壁下、壁頂、坑頂3個投影繪圖點(diǎn),這3個點(diǎn)基本上可以控制()及坑頂兩個面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。
分礦床勘查類型和確定勘查工程間距時,應(yīng)依據(jù)主要礦體規(guī)模、主要礦體形態(tài)及內(nèi)部結(jié)構(gòu)、礦床構(gòu)造影響程度、主礦體厚度穩(wěn)定程度和有用組分分布均勻程度等五個主要地質(zhì)因素來確定。
單工程礦體的圈定主要依據(jù)邊界品位、最低工業(yè)品位、有害組分平均允許最高含量、夾石剔除厚度、最小可采厚度或最低工業(yè)米*百分值(米*克/噸值)等綜合考慮,同時應(yīng)注意礦體的劃分問題。
地質(zhì)編錄只包括現(xiàn)場編錄。
采用米·克/噸值圈定礦體時可以外推(以米·克/噸值圈定的薄脈型礦體除外)。