A.薄壁管的檢測(cè)是以周向橫波檢測(cè)為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應(yīng)采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會(huì)引起折射角的擴(kuò)散,應(yīng)使用小晶片探頭
D.以上都對(duì)
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A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對(duì)
A.橫波檢測(cè)薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍(lán)姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
A.將縱波斜入射至薄板中激勵(lì)蘭姆波是目前最常用的方法
B.蘭姆波是在整個(gè)板厚范圍內(nèi)傳播的
C.蘭姆波的相速度是隨頻率、板厚、和蘭姆波模式三個(gè)因素而變化的
D.以上都是
A.用脈沖波激勵(lì)蘭姆波時(shí),蘭姆波是以群速度傳播的
B.蘭姆波的群速度是隨頻率、板厚、和蘭姆波模式三個(gè)因素而變化的
C.蘭姆波有對(duì)稱(chēng)型和反對(duì)稱(chēng)型兩種基本形式
D.以上都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。