A.10mSv
B.20mSv
C.50mSv
D.100mSv
E.500mSv
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A.小野三維集束單次大劑量
B.小野三維集束單次小劑量
C.小野三維集束多次大劑量
D.小野三維集束多次小劑量
E.大野三維集束多次大劑量
A.指型電離室
B.半導(dǎo)體電離室
C.膠片
D.熱釋光劑量計(jì)
E.凝膠劑量計(jì)
A.X射線和電子線
B.X射線和β射線
C.X射線和γ射線
D.α射線和γ射線
E.X射線和α射線
A.包括遮線門、擋塊、補(bǔ)償器、MLC、楔形板
B.由擋塊、組織填充物組成
C.組織異質(zhì)性或不均勻修正一般用于解決在大的均勻水體模測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)射野與實(shí)際病人之間差異的問題
D.通過采用中心軸和離軸的劑量數(shù)據(jù)集,使用0野的TAR和計(jì)算深度的散射空氣比,將射野的原射線與散射線組分分開來計(jì)算不規(guī)則射野內(nèi)感興趣點(diǎn)劑量
E.能估算指定器官的劑量反應(yīng),并幫助評(píng)估劑量分割和體積效應(yīng)
A.初級(jí)離子數(shù)與探測(cè)體積內(nèi)帶電粒子軌跡上沉積的能量成正比
B.適合測(cè)量低強(qiáng)度輻射場(chǎng),每次相互作用中收集到的電荷量與探測(cè)器內(nèi)氣體中沉積的能量成正比
C.測(cè)量儀的壁內(nèi)側(cè),通常附加一層硼化合物,或者測(cè)量儀內(nèi)充BF3氣體
D.適用于泄漏測(cè)試和放射性污染的探測(cè)
E.有很高的體積電阻抗(如CdS、CdSe),該類探測(cè)器在輻射場(chǎng)中接受照射時(shí)工作原理與固態(tài)電離室相似
最新試題
電離室型劑量儀在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
射野中心軸上百分深度劑量值的大小直接反應(yīng)了射線質(zhì)(能量)的高低。
低LET射線照射哺乳動(dòng)物細(xì)胞存活曲線在低劑量段有肩區(qū),提示()。
百分深度劑量受照射野面積的影響。
α/β不僅代表了細(xì)胞存活曲線的曲度,也代表了細(xì)胞對(duì)亞致死損傷的修復(fù)能力。
巴黎系統(tǒng)規(guī)定臨床靶區(qū)的厚度T大于1.2cm 時(shí),應(yīng)采用雙平面插植。
帶電粒子與物質(zhì)的一次相互作用可以損失其能量的全部或很大一部分。
源皮距越小,百分深度劑量越大。
帶電粒子入射到物體時(shí),沒有確定的射程。
隨能量增大,光電效應(yīng)發(fā)生的概率迅速減小。