A.輸入屏
B.閃爍體
C.光電(陰極)層
D.輸出屏
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你可能感興趣的試題
A.IP板
B.IP板掃描讀出裝置
C.A/D轉(zhuǎn)換器
D.掃描讀出軟件
A.它是一種直接轉(zhuǎn)換的輻射探測(cè)器
B.結(jié)構(gòu)包括閃爍體、非晶硅層和TFT陣列
C.閃爍體將輻射轉(zhuǎn)換為光
D.非晶硅層將光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)
A.非晶硅探測(cè)器
B.圖像增強(qiáng)器
C.成像板(IP板)
D.氣體探測(cè)器
A.基本空間分辨率與規(guī)格化信噪比
B.基本空間分辨率與動(dòng)態(tài)范圍
C.規(guī)格化信噪比與靈敏度
D.規(guī)格化信噪比與線性范圍
A.空間分辨率
B.動(dòng)態(tài)范圍
C.信噪比
D.尺寸與重量
最新試題
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()
雙壁單影透照環(huán)焊縫時(shí),不滿足Ug要求下,應(yīng)選擇較小焦距,這是為了()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無損檢測(cè)方法是()
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
對(duì)于螺栓的檢測(cè),不適用的無損檢測(cè)方法是()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()