A. 熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號
B. 或是在50mm×50mm的檢測面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號
C. 其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅
D. 熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有4個(gè)或4個(gè)以上的缺陷反射信號
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A. 對應(yīng)使用
B. 作為獨(dú)立的等級分別使用
C. 可不受此條文的限制
D. 以上都對
A.Ⅰ級
B. Ⅱ級
C. Ⅲ級
D. Ⅳ級
A. Φ2mm
B. Φ3mm
C. Φ4mm
D. Φ5mm
A. Φ2mm
B. Φ3mm
C. Φ4mm
D. Φ5mm
A. Φ2mm
B. Φ3mm
C. Φ4mm
D. Φ5mm
最新試題
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度，若B2對準(zhǔn)50 ， B4對準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少？此時(shí)B1、B3分別對準(zhǔn)的水平刻度值為多少？
用2.5P14Z探頭檢測鍛件，利用工件100mm大平底，如何校準(zhǔn)同工件，厚度180m處 的檢測靈敏度？
檢測板厚T=20mm的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm，下焊縫寬25mm，選用K2探頭，前沿距離L0=16mm，用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面？是否能滿足要求？
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用K2.5斜探頭檢測T = 12mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
用5P10×12K2探頭檢測板厚T = 24mm 鋼板對接焊縫，掃描線按深度2：1調(diào)節(jié)，檢測 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，計(jì)算此缺陷深度和水平距離？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測靈敏度（400/Ф2）？
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭，用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1：1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn)，求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對準(zhǔn)水平刻度值為多少？