單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)中,選用晶片尺寸大的探頭優(yōu)點(diǎn)是（）。 

A. 曲面檢測(cè)時(shí)可減少耦合損失
B. 可減少材質(zhì)衰減損失
C. 輻射聲能大
D. 聲束能量


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1.單項(xiàng)選擇題被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起（）。

A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上的全部或部分現(xiàn)象發(fā)生

3.單項(xiàng)選擇題檢測(cè)時(shí)采用較高的檢測(cè)頻率，可有利于（）。

A. 發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B. 區(qū)分開相鄰的缺陷
C. 改善聲束指向性
D. 以上都對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題探頭的晶片尺寸增加對(duì)探頭的（）有不利影響。

A. 聲束的指向性
B. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度
C. 遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力
D. 以上都是

5.單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)于定量要求高的情況應(yīng)選則（）的儀器。

A. 水平線性誤差小
B. 垂直線性好、衰減器精度高
C.盲區(qū)小、分辨率好
D. 靈敏度余量高、信噪比高、功率大

最新試題

用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？   （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件，利用工件100mm大平底，如何校準(zhǔn)同工件，厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度？

題型：?jiǎn)柎痤}

用5P10×12K2.5探頭，檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？

題型：?jiǎn)柎痤}

用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無縫鋼管，求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值？

題型：?jiǎn)柎痤}

面積為1×1m2的鋼板超聲檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)有以下缺陷：指示長(zhǎng)度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè)， 指示長(zhǎng)度為75mm，面積50cm2的缺陷3個(gè)；指示長(zhǎng)度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè)；各缺陷間距均大于100mm，試根JB/T4730.3－2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。   

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大??？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度（350/ф2）？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？

題型：?jiǎn)柎痤}

用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體，計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少？

題型：?jiǎn)柎痤}