A. 波的繞射
B. 波的干涉
C. 波的衰減
D. 波的傳播
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A.散射衰減
B.擴(kuò)散衰減
C.吸收衰減
D.材質(zhì)衰減
A.有機(jī)玻璃楔塊中
B.從晶片中
C.有機(jī)玻璃與耦合界面上
D.耦合層與鋼板界面上
A.在工件中得到純橫波
B.得到良好的聲束指向性
C.實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D.實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換
A.介質(zhì)的聲阻抗
B.介質(zhì)的衰減系數(shù)
C.介質(zhì)的聲速
D.反射的波型
A.反射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)的聲阻抗
D.入射波聲速
最新試題
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)(400/Ф2)后進(jìn)行檢測(cè),發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB,求此缺陷當(dāng)量?
超聲檢測(cè)板厚T = 42mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,在190mm長(zhǎng)度范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)三處缺陷: 試根據(jù)JB/T4730.3-2005超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此焊接接頭的級(jí)別。
用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
ф50×6mm無縫鋼管水浸聚焦超聲檢測(cè),聲透鏡半徑r′= 40mm ,水中C2 = 1480m/s ,聲透鏡中C1=2730m/s , 求偏心距和水層厚度各為多少?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大小?
用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體,計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少?
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無縫鋼管,求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用入射角a = 500的斜探頭檢測(cè)板厚T = 22mm的鋼焊縫,已知探頭楔塊CL= 2730m/s ,鋼中 Cs= 3230m/s ,儀器按水平1:1調(diào)節(jié)掃描速度,檢測(cè)時(shí)在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷,求此缺陷的位置。