單項選擇題雙晶探頭主要檢測()的缺陷和已知缺陷的定點測量。
A.表面
B.近表面
C.內(nèi)部
D.底部
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1.單項選擇題對于非金屬夾雜等缺陷,由于聲阻抗與鋼的聲阻抗相差小,缺陷的反射波相應(yīng)的()
A.不變
B.減弱
C.增大
D.不確定
2.單項選擇題通常含氣體的缺陷其聲阻抗與鋼聲阻抗相差較大,可近似地認為聲波在缺陷表面時全()
A.反射
B.折射
C.透射
D.繞射
3.單項選擇題當缺陷直徑低于波長的2倍時,缺陷的指向性將()
A.變好
B.變壞
C.變大
D.變小
4.單項選擇題實際探傷中需配備不同()的探頭同時探傷。
A.聚焦探頭
B.角度
C.多晶探頭
D.水浸式探頭
5.單項選擇題實際上缺陷表面相對于聲束垂直入射方向往往并不垂直,探傷人員對缺陷()估計偏小的可能性很大。
A.形狀
B.深度
C.位置
D.尺寸
最新試題
對于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
題型:判斷題
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。
題型:判斷題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
題型:判斷題
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
題型:判斷題
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當大的差異。
題型:判斷題
水浸式探頭主要特點是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
題型:判斷題
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
題型:判斷題
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
題型:判斷題
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進入試件的檢測的方法。
題型:判斷題
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
題型:判斷題