A、差別很大
B、差別不大
C、基本一致
D、完全相同
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A、電子線路
B、發(fā)射晶體
C、接收天線
D、磁感應(yīng)器
A、判斷滲透性地層
B、準(zhǔn)確求出沖洗帶電阻率
C、求孔隙度
D、劃分薄層
A、劃分薄層
B、準(zhǔn)確判斷巖性
C、判斷地層傾向
D、確定地層流體性質(zhì)
A、電化
B、磁化
C、極化
D、導(dǎo)電
A、不同
B、相同
C、近似
D、有一定聯(lián)系
最新試題
假設(shè)某隨鉆測(cè)井儀器采樣時(shí)間為6s,如果內(nèi)存數(shù)據(jù)按照每隔半英尺一個(gè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算,要保證該工具內(nèi)存數(shù)據(jù)的完整準(zhǔn)確,該工具的測(cè)井最高速度應(yīng)為()m/h。
通常井眼擴(kuò)徑或者測(cè)量間距增大,會(huì)導(dǎo)致隨鉆密度值()、中子值()
某井段一套砂巖地層,自上而下,SP異常幅度逐漸減小,自然伽馬幅度逐漸增大、電阻率逐漸減小,最有可能的原因?yàn)椋ǎ?/p>
隨鉆測(cè)壓中,()壓力測(cè)試期間無(wú)壓降或微弱壓降,壓力值保持為鉆井液靜液柱壓力,該類型點(diǎn)不能用于解釋分析。
造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中,曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些?
隨鉆測(cè)壓中,壓力測(cè)試過(guò)程完整,特征點(diǎn)清晰,壓力值數(shù)值穩(wěn)定且恢復(fù)到真實(shí)地層壓力的為()
簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。
貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到()in。
EMRT儀器常用模式有三種供選擇,分別是()
鉆井液中含有重晶石時(shí),光電吸收截面指數(shù)曲線在滲透層及有效裂縫發(fā)育段應(yīng)有明顯的()