A、0.05cm
B、0.08mm
C、0.05mm
D、0.01mm
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A、造壁
B、切力
C、導(dǎo)電
D、粘度
A、0.01~10Ω•m
B、O.2~15Ω•m
C、5~500Ω•m
D、10~1000Ω•m
A、馬上
B、稍等片刻
C、過(guò)很長(zhǎng)時(shí)間
D、過(guò)1h
A、體積
B、密度
C、礦化度
D、粘度
A、地層
B、泥餅
C、油藏
D、水層
最新試題
假設(shè)某隨鉆測(cè)井儀器采樣時(shí)間為6s,如果內(nèi)存數(shù)據(jù)按照每隔半英尺一個(gè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算,要保證該工具內(nèi)存數(shù)據(jù)的完整準(zhǔn)確,該工具的測(cè)井最高速度應(yīng)為()m/h。
穿芯打撈有哪些注意事項(xiàng)?
隨鉆測(cè)壓的資料可用于確定()
對(duì)于雙側(cè)向儀器EDLT,下列說(shuō)法正確的是()
微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有()
感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好,適應(yīng)于()
測(cè)井監(jiān)督應(yīng)具備的工作技能都有哪些方面?
造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中,曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些?
簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。
貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到()in。