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現(xiàn)場用電橋測量介質(zhì)損耗因數(shù),出現(xiàn)-tgδ的主要原因:①標(biāo)準(zhǔn)電容器CN有損耗,且tgδN>tgδx;②電場干擾;③試品周圍構(gòu)架雜物與試品絕緣結(jié)構(gòu)形成的空間干擾網(wǎng)絡(luò)的影響;④空氣相對濕度及絕緣表面臟污的影響。
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GIS耐壓試驗之前,進(jìn)行凈化試驗的目的是:使設(shè)備中可能存在的活動微粒雜質(zhì)遷移到低電場區(qū),并通過放電燒掉細(xì)小微?;螂姌O上的毛刺、附著的塵埃,以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度,避免不必要的破壞或返工。
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