在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

變形振動分為（）。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。