RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。

利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）

度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

絕對(duì)定位定位精度為（）。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤(pán)讀數(shù)設(shè)定方法是，應(yīng)（），使水平度盤(pán)讀數(shù)對(duì)到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍，同時(shí)使符合對(duì)徑分劃線上下精確對(duì)齊。