使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。