單項(xiàng)選擇題與X射線相比,γ射線探傷優(yōu)點(diǎn)是()

A.設(shè)備簡單
B.設(shè)備體積小
C.不用電源
D.以上全部


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1.單項(xiàng)選擇題圓形缺陷用評定框尺進(jìn)行評定,框尺的長邊應(yīng)()

A.與焊縫方向平行
B.與焊縫成任意角度
C.與焊縫方向垂直
D.以上均可

2.單項(xiàng)選擇題盛放顯影液的顯影槽不用時(shí)應(yīng)用蓋蓋好,這主要是為了()

A.防止藥液氧化
B.防止落進(jìn)灰塵
C.防止水分蒸發(fā)
D.防止溫度變化

3.單項(xiàng)選擇題在顯影過程中應(yīng)翻動膠片或攪動顯影液,其目的是()

A.保護(hù)膠片,使其免受過大壓力
B.使膠片表面的顯影液更新
C.使膠片表面上未曝光的銀粒子散開
D.防止產(chǎn)生網(wǎng)狀皺紋

4.單項(xiàng)選擇題底片上出現(xiàn)的白點(diǎn)影像,它可能是()

A.鎢夾渣
B.焊瘤
C.焊接飛濺
D.以上都是

最新試題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項(xiàng)選擇題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題