A.提高探頭聲束指向性 B.校準儀器掃描線性 C.提高探頭前沿長度和K值測定精度 D.以上都對
A.側(cè)面反射波帶來干涉 B.探頭太大,無法移至邊緣 C.頻率太高 D.以上都不是
A.小K值探頭 B.大K值探頭 C.軟保護膜探頭 D.高頻探頭