判斷題設(shè)備部主任每天應(yīng)巡視現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備,查閱缺陷管理網(wǎng)頁(yè),對(duì)新發(fā)生的缺陷提出處理意見(jiàn),對(duì)未處理完的缺陷檢查督促消除。
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請(qǐng)列出GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)的三種試驗(yàn)類型并說(shuō)明他們之間的區(qū)別(試驗(yàn)樣品類型、過(guò)程是否通電、選用氣流速度三方面)。
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電路Layout設(shè)計(jì)時(shí),晶振越靠近主芯片越好。
題型:判斷題