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判斷題在X射線熒光光譜分析中，樣品中除分析元素以外的全部元素為基體，基體元素對分析元素的影響叫基體效應。

1.判斷題X射線熒光分析標準添加法和稀釋法中，仍需要標準和校準曲線。

2.判斷題X射線熒光分析時基體效應的基體與光電直讀光譜分析用的鐵基樣品、鎳基樣品、鉻基樣品的鐵基、鎳基、鉻基含意是一樣的。

3.判斷題X射線熒光光譜內標法，即把一定量的內標元素加入到標準試料及分析試料中，以標準試料中分析元素與內標元素的X射線熒光強度比與分析元素含量繪制校準曲線。測定分析試料的分析元素與內標元素的X射線熒光強度比，從校準曲線求得分析元素含量。

4.判斷題X射線熒光光譜法分析線的強度與分析面的磨紋方向有關，因此，在測量時采取轉動試樣的方法，以減少誤差。

5.判斷題X射線熒光光譜分析康普頓散射線內標法不能校正基體的吸收效應，只能校正增強效應。