多項(xiàng)選擇題

在X射線熒光分析中，當(dāng)樣品研磨到極細(xì)時(shí)，則（）基本消失；將樣品制成薄層并薄到臨界厚度以下時(shí)，分析線所受的（）與樣品的組成無(wú)關(guān)。

A.均勻性
B.粒度效應(yīng)
C.輻射
D.吸收-增強(qiáng)效應(yīng)

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