A.幾何衰減(擴(kuò)散衰減)
B.透過衰減
C.粘滯性衰減
D.摩擦衰減
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A.P波
B.R波
C.S波
D.L波
A.測試距離
B.對(duì)小缺陷識(shí)別能力
C.激發(fā)信號(hào)能量大小
A.6
B.8
C.10
D.12
A.平測法
B.傳遞函數(shù)法
C.跨孔法
D.斜測法
A.裂縫寬度
B.裂縫長度
C.裂縫走向
D.裂縫深度
最新試題
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()