A.7
B.10
C.12
D.15
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A.處于同一單元的三相電容型設(shè)備,其帶電測(cè)試結(jié)果的變化趨勢(shì)應(yīng)有明顯差異
B.對(duì)于電容式電壓互感器,受其電磁單元結(jié)構(gòu)及參數(shù)等因素影響,測(cè)得的介質(zhì)損耗差值可能較小
C.數(shù)據(jù)分析還應(yīng)綜合考慮設(shè)備歷史運(yùn)行狀況、同類型設(shè)備參考數(shù)據(jù),同時(shí)參考其他帶電測(cè)試試驗(yàn)結(jié)果
D.同相設(shè)備介損測(cè)量值與初始測(cè)量值比較,變化量不大于0.003
A.±3%
B.±4%
C.±5%
D.±6%
A.±0.3%
B.±0.2%
C.±0.4%
D.±0.1%
A.較小
B.合適
C.較大
D.為零
A.被試設(shè)備與參考設(shè)備電容量的差值
B.被試設(shè)備與參考設(shè)備電容量的比值
C.參考設(shè)備與被試設(shè)備電容量的差值
D.參考設(shè)備與被試設(shè)備電容量的比值
最新試題
SF6斷路器氣體管道淺表性受損,不影響設(shè)備運(yùn)行,開(kāi)展D類或C類檢修進(jìn)行()處理。
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