最新試題
主變高壓套管帶電檢測,其檢測阻抗能否直接串入電容接地線測量。
絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷,則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。
重大缺陷消缺率和及時(shí)率的要求分別為90%和85%。
采用搖表(或接地電阻測試儀)由于輸出測試電流小,不用布放那么長的電壓線和電流線。
超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。