試驗(yàn)變壓器波形畸變的根本原因是調(diào)壓器和試驗(yàn)變壓器的漏抗以及電容負(fù)載所造成。

GIS耐壓試驗(yàn)之前，進(jìn)行老化（凈化）試驗(yàn)的目的是：使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū)，并通過(guò)放電燒掉細(xì)小微?；螂姌O上的毛刺、附著的塵埃，以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度，避免不必要的破壞或返工。

對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的電氣儀器儀表,儀表本身消耗的功率越小越好，否則在測(cè)小功率時(shí)，會(huì)使電路工況改變而引起附加誤差。

當(dāng)電力設(shè)備的額定電壓與實(shí)際使用的額定電壓不同時(shí)，當(dāng)采用額定電壓較高的設(shè)備作為代用時(shí)，應(yīng)按照實(shí)際使用的額定電壓確定其試驗(yàn)電壓。

在規(guī)定時(shí)間內(nèi)承載被保護(hù)部分的負(fù)載電流或(和)故障電流，以防止電容器過(guò)電壓或金屬氧化物限壓器過(guò)負(fù)荷的受控觸發(fā)間隙。

在現(xiàn)場(chǎng)相同條件下（好天氣），用介損儀測(cè)量小電容試品的tgδ和Cx時(shí)，用正接線方法和反接線方法測(cè)量結(jié)果是完全相同的。

雙斷口的SF6系列斷路器有兩個(gè)斷口，為了使各個(gè)斷口在分、合閘時(shí)承受接近均等的電壓，一般用電容進(jìn)行均壓。

超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。

絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷，則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。

交流耐壓試驗(yàn)電壓波形應(yīng)是正弦或接近正弦，兩個(gè)半波應(yīng)完全一樣，且波頂因數(shù)即峰值與有效值之比應(yīng)等于√2±0.07。