直流泄漏電流試驗能反映瓷質(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣內(nèi)部受潮及局部斷裂、絕緣的沿面炭化等。

超高頻局部放電試驗能夠發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。

直流高壓試驗采用高壓硅堆作整流元件時，高壓硅堆上的反峰電壓使用值不能超過硅堆的額定反峰電壓，其額定整流電流應大于工作電流，并有一定的裕度。

若儀表刻度不均勻，則在分度線較密的部分，讀數(shù)誤差較大，靈敏度也較低。

GIS耐壓試驗之前，進行老化（凈化）試驗的目的是：使設(shè)備中可能存在的活動微粒雜質(zhì)遷移到低電場區(qū)，并通過放電燒掉細小微粒或電極上的毛刺、附著的塵埃，以恢復GIS絕緣強度，避免不必要的破壞或返工。