直流泄漏電流試驗(yàn)?zāi)芊从炒少|(zhì)絕緣的裂紋、夾層絕緣內(nèi)部受潮及局部斷裂、絕緣的沿面炭化等。

超高頻局部放電試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部發(fā)熱、放電及絕緣缺陷。

GIS耐壓試驗(yàn)之前，進(jìn)行老化（凈化）試驗(yàn)的目的是：使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場(chǎng)區(qū)，并通過(guò)放電燒掉細(xì)小微?；螂姌O上的毛刺、附著的塵埃，以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度，避免不必要的破壞或返工。

40.5kV及以上非純瓷套管和多油斷路器的tanδ應(yīng)在分閘狀態(tài)下按每支套管進(jìn)行測(cè)量。

在現(xiàn)場(chǎng)相同條件下（好天氣），用介損儀測(cè)量小電容試品的tgδ和Cx時(shí)，用正接線方法和反接線方法測(cè)量結(jié)果是完全相同的。