標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。

磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

在工件內(nèi)部的剩磁，周向磁化要比縱向磁化大的多。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。