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A、分層
B、夾渣
C、未結(jié)合
D、裂紋

A、可以采用2.5P10ⅹ12K1橫波斜探頭
B、人工反射體可以采用邊角反射等其它形式
C、以鍛件內(nèi)外表面V型槽的距離－波幅曲線作為基準靈敏度
D、波幅在距離波幅曲線（基準線）50～100%的缺陷按缺陷指示長度進行分級

A、外圓面徑向縱波探測
B、外圓面周向橫波探測
C、外圓面軸向橫波探測
D、以上都是

A、DZ-Ⅰ
B、DB-P
C、CS2和CS4
D、CS3和CS4

A、0.5－1MHz雙晶直探頭
B、1－5MHz雙晶直探頭
C、2.5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭

A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離－波幅曲線
B、雙晶探頭檢測時，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%，即B1＜50%
D、以上都是

A、全面掃查
B、列線掃查
C、格子線掃查
D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查

A、階梯平底試塊
B、φ5平底孔試塊
C、CS2
D、CS3

A、2.5MHz雙晶直探頭
B、4－5MHz雙晶直探頭
C、4－5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭

A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20－2