A.偶然誤差和連續(xù)誤差
B.偶然誤差和系統(tǒng)誤差
C.連續(xù)誤差和系統(tǒng)誤差
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A.設(shè)備重復(fù)性不穩(wěn)定導(dǎo)致X Chart失控
B.設(shè)備重復(fù)性不穩(wěn)定導(dǎo)致R Chart失控
C.設(shè)備偏差發(fā)生改變導(dǎo)致X Chart失控
D.設(shè)備偏差發(fā)生改變導(dǎo)致R Chart失控
A.Ⅰ級
B.Ⅱ級
C.Ⅲ級
D.以上都不對
A、儀器未經(jīng)過適當(dāng)校準(zhǔn)
B、測量方法不對
C、儀器部件磨損
D、員工沒有Qualify
最新試題
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
因為X（bar）-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強(qiáng)，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
當(dāng)過程能力不足時，為提高過程能力，應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
做初始能力研究時，Cp大于1.33，這臺機(jī)器能力可以接受了。
控制限
SPC
變差
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。