以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

康普頓效應對射線檢測的影響包括（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

最容易發(fā)生光電效應的射線能量為（）

光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）