如圖所示,A,B為已有的平面控制點(diǎn),E,F(xiàn)為待測(cè)設(shè)的建筑物角點(diǎn),試計(jì)算分別在A,B設(shè)站,用極坐標(biāo)法測(cè)設(shè)E,F(xiàn)點(diǎn)的數(shù)據(jù)(角度算至1″,距離算至1mm)。
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根據(jù)圖的等高線,作AB方向的斷面圖。
最新試題
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
全站儀觀測(cè)水平角,下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是()。
絕對(duì)定位定位精度為()。
雙面水準(zhǔn)尺中,以下說(shuō)法正確的是()。
衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的()、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m,B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀,儀器高為1.43m,平距DAB=341.23m,觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″,則由此算得B點(diǎn)的高程為()
度盤(pán)刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。
深度基準(zhǔn)面的確定方法有理論深度基準(zhǔn)面、最低水位、()、設(shè)計(jì)水位。
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、()、數(shù)軸和光學(xué)(激光)對(duì)中器視軸等。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用()