計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

以下屬于光電檢測(cè)儀器的有（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問(wèn)題。

在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。

紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。

具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

以下主要利用光伏效應(yīng)的光電器件有（）。