A.自旋核加熱過(guò)程
B.自旋核由低能態(tài)向高能態(tài)的躍遷過(guò)程
C.自旋核由高能態(tài)返回低能態(tài)，多余能量以電磁輻射形式發(fā)射出去
D.高能態(tài)自旋核將多余能量以無(wú)輻射途徑釋放而返回低能態(tài)
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A.磁場(chǎng)不均勻
B.增大射頻輻射的功率
C.試樣的粘度增大
D.種種原因使自旋-自旋弛豫（橫向弛豫）的速率顯著增大
A.苯>乙烯>乙炔
B.乙炔>乙烯>苯
C.乙烯>苯>乙炔
D.三者相等
A.4個(gè)單峰
B.3個(gè)單峰，1個(gè)三重峰
C.2個(gè)單峰
D.2個(gè)單峰，1個(gè)三重峰和1個(gè)四重峰
A.2
B.1
C.4
D.3
最新試題
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是（）。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無(wú)需任何預(yù)處理。
X射線熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定，分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域，即（）。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類(lèi)型，它們分別是（）。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是（）。
ICP光譜干擾包括（）。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí)，是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。