X射線熒光光譜分析中，分光晶體對溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內。

紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池，高量程的池體短，相應紅外光程短。

ICP-AES法測量分析試樣時，所選擇的光譜分析線是（）。

ICP-AES法中檢出限高低取決于（）。

氧氮分析儀測氮時，是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮氣量來檢測的。

紅外吸收法分析碳和硫時，可以用同一個紅外池來檢測。

ICP中等離子體環(huán)狀結構形成的原因是（）。

ICP光譜干擾包括（）。

ICP所用的氣動霧化器有三種基本類型，它們分別是（）。

在高頻感應紅外碳硫分析儀中，可以作為氧化催化劑的試劑有（）。