A.極限
B.濃度
C.磁粉數(shù)目
D.稠度
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A.狹窄的磁滯回線
B.低磁導(dǎo)率
C.低矯頑力
D.A和C
A.在高空野外作業(yè)宜用固定式探傷機(jī)
B.檢查厚鋼板宜用直流電磁軛
C.高光潔度工件宜采用支桿觸頭磁化
D.在無電源和易燃場合宜采用永久磁軛
A.僅僅是表面缺陷
B.僅僅是表面下的缺陷
C.表面和表面下的缺陷
D.內(nèi)部很深的缺陷
A.用通電法磁化
B.用線圈磁化
C.使電流通過置于工作中的導(dǎo)體
D.增加使用的安倍數(shù)
A.支桿法
B.磁軛法
C.線圈法
D.穿棒法
最新試題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
對(duì)于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。