A.H=I/2πr2
B.H=I/2πr
C.H=Ir/2π
D.H=I/2πrR
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A.以固定位置排列,方向互相抵消
B.以固定位置排列,在一個(gè)方向占優(yōu)勢(shì)
C.無(wú)規(guī)則的排列
D.與金屬晶粒結(jié)構(gòu)相同
A.北極
B.南極
C.北極和南極
D.任意
A.缺陷
B.飽和點(diǎn)
C.磁極
D.交點(diǎn)
A.25奧斯特
B.50奧斯特
C.75奧斯特
D.100奧斯特
A.50奧斯特
B.75奧斯特
C.100奧欺特
D.125奧斯特
最新試題
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門(mén)的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會(huì)使定量誤差增加。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。