測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）

下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）

測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）