單項(xiàng)選擇題軸偏移深度測(cè)量誤差（）

A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測(cè)量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在


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1.單項(xiàng)選擇題軸偏離底面盲區(qū)（）

A.隨探頭折射角減小而減小，隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大，隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小，隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大，隨探頭脈沖寬度減小而增大

2.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于直通波的盲區(qū)的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小，則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)

3.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于TOFD技術(shù)近表面深度測(cè)量誤差的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.近表面深度測(cè)量，時(shí)間上一個(gè)很小的誤差會(huì)給深度帶來(lái)很大的誤差
B.近表面深度測(cè)量，深度上一個(gè)很小的誤差會(huì)給時(shí)間帶來(lái)很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力

4.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于TOFD技術(shù)局限性的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號(hào)淹沒(méi)在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時(shí)底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)

5.單項(xiàng)選擇題TOFD技術(shù)尺寸測(cè)量準(zhǔn)確度誤差的平均值大約為（）

A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無(wú)法給出數(shù)值